Нанометрологија и стандардизација
Предмет: Нанометрологија и стандардизација
Код: 3ФЕИТ08018
Број на ЕКТС кредити: 6 ЕКТС
Неделен фонд на часови: 3+0+0+3
Наставник: Проф. д-р Христина Спасевска
Цели на предметната програма (компетенции): Здобивање знаења од областа на метрологијата на нанотехнологиите, карактеризацијата на наноструктутите и стандардизцијата со цел индустриско добивање на нанопроизводи.
Содржина на предметната програма: Вовед во метрологијата на микро и нанотехнологиите.Терминологија и номенклатура во нанотехнологиите. Метролошки техники за мерење на нано вредности и ограничувачки фактори. Мерење на еднодимензионални, дведимензионални и тридимензионални структури. Неодреденост при мерњее на нано димензии. Метролошки принципи за индустриско добивање на нано производи. Стандарди во нанотехнологиите, основни области на стандардизацијата во нанотехнологиите.
Литература:
|
Задолжителна литература |
||||
|
Бр. |
Автор |
Наслов |
Издавач |
Година |
|
1 |
Richard Leach |
Fundamental Principles of Engineering Nanometrology |
William Andrew |
2009 |
|
2 |
Vladimir Murashov, John Howard |
Nanotechnology Standards |
Springer |
2011 |
|
3 |
Günter Wilkening, Ludger Koenders |
Nanoscale Calibration Standards and Methods |
John Wiley & Sons |
2006 |
|
Дополнителна литература |
||||
|
Бр. |
Автор |
Наслов |
Издавач |
Година |
|
1 |
David J. Whitehouse |
Handbook of Surface and Nanometrology |
Taylor & Francis |
2010 |
|
2 |
Wei-Hong Zhong |
Nanoscience and Nanomaterials: Synthesis, Manufacturing and Industry Impacts |
DEStech Publications, Inc |
2012 |
