Лични алати
Пријави се

Нанометрологија и стандардизација

Предмет: Нанометрологија и стандардизација

Код: ФЕИТ08017

Број на ЕКТС кредити: 6 ЕКТС

Неделен фонд на часови: 3+0+0+3

Наставник: проф. д-р Христина Спасевска

Содржина на предметната програма: Вовед во метрологијата на микро и нанотехнологиите.Терминологија и номенклатура во нанотехнологиите. Метролошки техники за мерење на нано вредности и ограничувачки фактори. Мерење на еднодимензионални, дведимензионални и тридимензионални структури. Неодреденост при мерњее на нано димензии. Метролошки принципи за индустриско добивање на нано производи. Стандарди во нанотехнологиите, основни области на стандардизацијата во нанотехнологиите.

Литература:

  1. Richard Leach, Fundamental Principles of Engineering Nanometrology, William Andrew, 2009
  2. Vladimir Murashov, John Howard, Nanotechnology Standards, Springer, 2011
  3. Günter Wilkening, Ludger Koenders, Nanoscale Calibration Standards and Methods, John Wiley & Sons, 2006
  4. David J. Whitehouse, Handbook of Surface and Nanometrology, Taylor & Francis, 2010
  5. Wei-Hong Zhong, Nanoscience and Nanomaterials: Synthesis, Manufacturing and Industry Impacts, DEStech Publications, Inc, 2012
Презентација на ФЕИТ

Prezentacija_na_FEITdekemvri2017_m.jpg

ISO 9001:2008

Соопштенија

RoboMac_Logobezgodina.jpg


erasmus.png

Календар
ноември
« ноември 2019 »
повтсрчепесане
123
45678910
11121314151617
18192021222324
252627282930